SEMICON JAPAN 2017に出展します

2017/12/11 インフォメーション Infomation, 展示会・説明会 Exhibition by admin

世界最大級のマイクロエレクトロニクス製造サプライチェーン総合展示会である「第41回SEMICON JAPAN 2016」に出展いたします。

 テーマとして「X線計測技術で、X線非破壊検査は“見るから量るへ”」を掲げ、以下の4つの新技術を展示いたします。

1)装置に内蔵できるサンプル加熱ユニットと変化する様子を記録する準動画ファイル機能
2)TMPデータソフト「BSFM Viewer」と3DCT画像計測解析ソフト「Volume Analyzer」
3)ナノフォーカスX線透視装置「FLEX-Nano445」
4)高速USB3.0・冷却型16ビット分解能X線CCDセンサ

年末のお忙しいところ、大変恐縮ではございますが、弊社ブース(3234)にぜひご来場賜りますよう何卒よろしくお願いいたします。

【開催概要】
名称 SEMICON Japan 2017
会期 2017年12月13日(水)?15日(金)
展示会開催時間 3日間共通 10:00?17:00
会場 東京ビッグサイト 東展示棟
弊社ブース 東3ホール3234
主催 SEMI (Semiconductor Equipment and Materials International)
入場料 展示会の来場者登録は無料です。
    HPにて事前にご登録ください。http://www.semiconjapan.org/

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