「第48回国際電子回路産業展/JPCA Show 2018」に出展します

2018/06/05 インフォメーション Infomation, 展示会・説明会 Exhibition by admin

下記のとおり開催される「第48回国際電子回路産業展/JPCA Show 2018」に出展します。

当社が推進するX線画像計測技術を活用した新しいX線透視システム:「スマートレントゲン(SMARTROENTGEN:SmaRoe)」の新技術を展示させていただきます。
ご多忙のところ大変恐縮ではございますが、弊社ブースにぜひご来場賜りますよう何卒よろしくお願いいたします。

展示技術内容:
超解像画像処理技術のX線画像への展開
 PCの高性能化はますます進んでいます。そして、IoT、AI、VRと画像分野においても、急速に普及が進み、コストも我々の手の届くところに来ています。
 今回、弊社のX線CCD画像に超解像画像処理技術を適用した場合に、画像がどのように改善されるのかを、実演展示します。
 弊社のX線CCDセンサは画素ピッチ20μmで、幾何倍率を10倍拡大すると2μmの画素分解能を有しています。NanoフォーカスX線源を用いると50倍拡大で0.4μmの画素分解能になります。超解像で、どの程度の解像度になるのかをご期待ください。また、画質についてもご意見いただければ幸いです。

USB3.0の冷却型16ビット分解能X線CCDセンサの実用化
昨年、「スマートレントゲン」の最重要技術であるUSB3.0の冷却型16ビット分解能X線CCDセンサをご報告しましたが、今年度は、このセンサ導入した装置の販売を開始しています。センサのAD変換精度を16ビットに高精度化して、従来の4倍に撮影輝度範囲を拡大しました。
 また、オプションですが、センサを冷却して暗電流を低減して、低線量で光量の少ない部分での精度・安定性の改善を図りました。USB3.0方式を導入し、画像データの高速転送を実現し、5枚/秒の準動画の録画が可能になりました。
弊社の加熱ユニットを使用して、半田の溶解状態や、部品の温度変化などを、この準動画記録機能を使って記録し、繰り返し再生・観察することにより、複雑な変化を、簡易に観察できるようになります。

【第48回国際電子回路産業展/JPCA Show 2018】開催概要
会 期:2018年6月6日(水)~ 8日(金) 午前10時~午後5時
会 場:東京ビッグサイト 東4~8ホール
弊社ブース:東5ホール 5H-23  (半導体パッケージング・部品内蔵技術展/Module JAPAN 2018)
主催:一般社団法人日本電子回路工業会(JPCA)
入場料:1,000円(税込) ※ただし、招待券持参者及びインターネットでの事前登録者は無料です。

事前登録はこちらから ⇒ http://www.jpcashow.com/show2018/index.html

超解像(ワイヤボンド)

jpca2018


タグ: 

コメントは受け付けていません。


BEAMSENSE ビームセンス