「ネプコン ジャパン 2015」に出展します

このたび下記の要領で開催されます「ネプコン ジャパン 2015／第32回 エレクトロテスト ジャパン」に出展することになりました。

 今回は従来のマイクロフォーカスX線透視装置に加え、「平成24年度ものづくり中小企業・小規模事業者試作開発等支援補助金」により試作機を開発しましたナノフォーカスX線透視装置「FLEX-Nano445」の技術を紹介させて頂きます。電子顕微鏡レベルの微細なX線画像及び３D立体画像で観察でき、半導体製造業界から要望の多かったTSV（シリコン貫通電極）の検査も可能です。会場では撮影画像をご披露させて頂きます。

 弊社ブースにぜひご来場ください。

名称：第32回 エレクトロテスト ジャパン（総称：ネプコン ジャパン 2015）
日時：2015年1月14日（水）～16日（金）　10：00～18：00（最終日は17：00終了）
会場：東京ビックサイト　東3ホール
展示ブース：東25-9
主催：リード エグジビジョン ジャパン

入場には招待券が必要です。ご必要な方は弊社までお申し付けください。

開催概要は下記のURLをご覧ください。　http://www.nepcon.jp/