「ネプコン ジャパン 2015」に出展します

2014/11/29 インフォメーション Infomation, 展示会・説明会 Exhibition by admin

このたび下記の要領で開催されます「ネプコン ジャパン 2015/第32回 エレクトロテスト ジャパン」に出展することになりました。

 今回は従来のマイクロフォーカスX線透視装置に加え、「平成24年度ものづくり中小企業・小規模事業者試作開発等支援補助金」により試作機を開発しましたナノフォーカスX線透視装置「FLEX-Nano445」の技術を紹介させて頂きます。電子顕微鏡レベルの微細なX線画像及び3D立体画像で観察でき、半導体製造業界から要望の多かったTSV(シリコン貫通電極)の検査も可能です。会場では撮影画像をご披露させて頂きます。

 弊社ブースにぜひご来場ください。

名称:第32回 エレクトロテスト ジャパン(総称:ネプコン ジャパン 2015)
日時:2015年1月14日(水)~16日(金) 10:00~18:00(最終日は17:00終了)
会場:東京ビックサイト 東3ホール
展示ブース:東25-9
主催:リード エグジビジョン ジャパン

入場には招待券が必要です。ご必要な方は弊社までお申し付けください。

開催概要は下記のURLをご覧ください。 http://www.nepcon.jp/

エレクトロテストジャパンlogo_jp1


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