「第47回国際電子回路産業展／JPCA Show 2017」に出展します

下記のとおり開催される「第47回国際電子回路産業展／JPCA Show 2017」に出展します。

当社が推進するX線画像計測技術を活用した新しいＸ線透視システム：「スマートレントゲン(SMARTROENTGEN：SmaRoe）」の新技術を展示させていただきます。

ご多忙のところ大変恐縮ではございますが、弊社ブースにぜひご来場賜りますよう何卒よろしくお願いいたします。

USB3.0の冷却型16ビット分解能X線CCDセンサ

「スマートレントゲン」の最重要技術であるUSB3.0の冷却型16ビット分解能X線CCDセンサを開発しました。「X線ステレオ撮影による多層プリント基板図化システムの開発」で取り組んで来ましたセンサのAD変換精度を16ビットに高精度化し、従来の4倍に撮影輝度範囲を拡大しました。特にセンサを冷却して暗電流を低減して、低線量で光量の少ない部分の精度の改善を図りました。また、画像データの増大に対処するため、USB3.0方式を導入し、画像データの高速転送を実現しました。これにより、4個のX線CCD画像の同時撮影が可能になりました。

加熱ユニットと準動画ファイル機能

サンプルの変化を加熱しながら、非破壊検査することを実現する加熱ユニットとその変化する動画像を連続して保存する準動画ファイル機能を開発・販売開始しました。上下両面から加熱を行うことが可能で、加熱雰囲気を比較的容易に制御することができます。加熱ヒータは平面のガラスヒータを使用していますので、外部から光学カメラで撮影することができます。

３DCT画像計測解析ソフト「Volume Analyzer」

ソフトウエアの分野では、岩手県立大学と共同開発した３DCT画像計測解析ソフト「Volume Analyzer」の販売を開始しました。３DCTデータの分析・解析にご活用ください。また、撮影した３DCTデータから、３Dプリンター用のSTLデータに変換する機能もあります。また、ご要望の多かった弊社画像フォーマット「.tmp」のビューアーソフト「BSFM Viewer」を開発しました。X線装置から離れた場所で、撮影された画像をじっくり観察することができ、貴重なデータの活用が図られます。

ナノフォーカスX線透視装置「FLEX-Nano445」

開発実用化を進めています電子顕微鏡レベルの微細なX線画像及び３D立体画像で観察できるナノフォーカスX線透視装置「FLEX-Nano445」の新しい撮像例を紹介させて頂きます。化学材料業界で注目されている炭素繊維（CF；Carbon Fiber)と、木材のセルロース繊維（セルロースファイバー）の画像を展示します。従来、X線では見えないといわれていた画像を、会場で実際にご覧ください。

【第47回国際電子回路産業展／JPCA Show 2017】開催概要

会　期：2017年6月7日（水）〜9日（金）　午前10時〜午後5時
会　場：東京ビッグサイト　東４～８ホール
弊社ブース：東5ホール　5G-20　 (半導体パッケージング・部品内蔵技術展／Module JAPAN 2017)
主催：一般社団法人日本電子回路工業会（JPCA）
入場料：1,000円（税込）

※ただし、招待券持参者及びインターネットでの事前登録者は無料です。

事前登録はこちらから ⇒ http://www.jpcashow.com/show2017/index.html